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簡要描述:JW-BIN-4m?-4步入式恒溫恒濕試驗室生產(chǎn)廠家|JW-BIN-8m?-6步入式恒溫恒濕試驗室報價|JW-BIN-16m?-4步入式恒溫恒濕試驗室維修|JW-BIN-30m?-4步入式恒溫恒濕試驗室批發(fā)|JW-BIN-16m?-6步入式恒溫恒濕試驗室制造商|上海JW-BIN-30m?-6步入式恒溫恒濕試驗室.4006306773;;60496773王
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AV380V 50Hz GB10589 AV380V 50Hz 60~98%R.H +2-3%R.H ±5% GB10586 GB/T2423.3 IEC68-2-3 試驗Ca 30~98%R.H +2-3%R.H ±5% GB10586 AV380V 50Hz
偏差±3℃
低溫試驗箱技術(shù)條件高溫段滿足:GB2423.2
IEC68-2-2
試驗B干熱低
溫段滿足:GB2423.1
IEC68-2-1
試驗A寒冷
GB11158
GB10592
高低溫試驗箱技術(shù)條件GB2423.22
溫度變化試驗方法高溫段滿足:
GB2423.2
IEC68-2-2
試驗B干熱
低溫段滿足:GB2423.1
IEC68-2-1
試驗A寒冷
外:1990×3700×2200
/±2℃
(75%R.H.以上)
(75%R.H.以下)
/±2℃
(75%R.H.以上)
(75%R.H.以下)
GB10589
GB/T2423.3
IEC68-2-3
試驗Ca
GB2423.1
IEC68-2-1
試驗A寒冷
IEC68-2-30
GB/T2423.4
試驗Db
適用于電子產(chǎn)品、電子元器件及電工產(chǎn)品等試品氏溫環(huán)境試驗。也可用于各種電器、一起、材料、涂料、鍍層等試樣在不同溫、濕度及規(guī)定的循環(huán)溫、濕度環(huán)境條件使用和儲存的適用性試驗,以便對試樣在給定環(huán)境條件下的性能作出評價。
試驗箱采用分體結(jié)構(gòu):箱體、控制臺、制冷機組三部分。
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